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多功能功率循环智能测试系统ThermalX
ThermalX 系列产品是一款多功能的功率半导体器件热学特性测试设备。主要用于 Si/SiC/GaN 材料的 IGBT/DIODE/MOSFET /BJT/SCR 等器件的秒级功率循环(PCsec)、分钟级功率循环(PCmin)、热阻(抗)测试(Rth/Zth)和 K 曲线测试(TSP-Vpn)。
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