在半导体功率器件检测领域，阅芯科技始终秉持专业、创新的精神，为客户提供全方位的解决方案。我们特别推出的测试服务，旨在满足研究所、高校以及第三方测试机构在功率器件量产筛选方面的特定需求。

  // 服务概述   

阅芯科技是一家专业从事半导体功率器件检测装备自主研发、制造的高新技术企业，公司产品丰富，涵盖环境寿命类(HTXB、HAST、H3TXB)、参数测试类(动态、静态、绝缘耐压)、功率循环类(PCmin、PCsec)、应用测试类(无功老化)等功率器件检测设备。客户群体包括功率半导体生产头部企业，新能源汽车厂家，以及高校，科研院所等。

结合多年自身的技术积累与行业经验优势，阅芯科技推出面向满足研究所、高校以及第三方测试机构的功率器件量产筛选测试服务。针对用户在功率半导体动静态和无功老化测试等环节，面临的治具缺乏、委外测试需求迫切的痛点，阅芯科技可为客户提供一站式，专业，优质，高效的测试服务。

  // 特色  

一站式测试解决方案：提供从测试方案设计、设备配置、测试执行到数据汇总的全流程服务，确保测试结果的准确性和可靠性。

专业测试团队：由拥有丰富行业经验的中科院背景专家、前国际半导体企业高级工程师，资深半导体测试工程师组成，提供专业的测试方案与技术支持。

灵活多样的测试项目：覆盖动态测试、静态测试、无功老化测试，满足用户不同的研究与应用测试要求。

丰富的治具开发经验：拥有成熟且稳定的治具设计方案，针对特殊封装的器件，可实现定制化开发治具。

  // 核心服务内容  

（一）静态测试服务

测试设备 AVATAR-S	参考标准	IEC 60747-8, IEC 60747-9,  GB/T 29332, AQG324, JEDEC JEP183等
	测试项目	ICES ，VTH ，IGES ，VF ，VCEsat，RDSon ，V(BR)CES，gfS，Vp，VT,  Rg，Cies，Coes, Cres等
	设备能力	精度：1%，最大电压3000V，最大电流2000A，最小漏电流nA级别
	应用范围	不同封装类型的Si基IGBT，以及SiC MOSFET 单管，DBC衬板与模块。支持半桥、三相全桥、PIM、三电平等拓扑结构产品的测试。

（二）动态态测试服务

测试设备 AVATAR-D	参考标准	IEC 60747-8, IEC 60747-9,  AQG324等
	测试项目	双脉冲测试，单脉冲测试，多脉冲测试，短路测试，UIS雪崩测试等
	设备能力	最大电压1500V，双脉冲电流3000A，短路电流12000A
	应用范围	不同封装类型的Si基IGBT，以及SiC MOSFET 单管，DBC衬板与模块。支持半桥、三相全桥、PIM、三电平等拓扑结构产品的测试。

（三）无功老化测试服务

测试设备 Maxwell-1500	参考标准	T/ CITIIA 601—2024
	测试项目	三相正弦电流模拟，结温测试，开关测试，过流测试，模块温升测试，过载测试，堵转测试
	设备能力	最大电压1500V，最大测试电流1000A rms，载波频率范围：2kHz~50kHz，电频率范围：20Hz~1000Hz
	应用范围	不同封装类型的Si基IGBT，以及SiC MOSFET模块。支持半桥、三相全桥等拓扑结构产品的测试。

  // 服务优势  

专业团队实力 ：核心团队汇集了来自中国科学院、国外知名半导体企业、海外业内专家等一系列优秀人才，拥有知识产权 150 余项。我们的技术团队在功率器件检测领域拥有深厚的专业知识和丰富的实践经验，能够为您提供最前沿、最专业的测试技术支持。

先进设备与技术 ：具备自主研发的、具有高度集成化、可定制化、模块化优势的检测设备，涵盖环境寿命类、参数测试类、功率循环类、应用测试类等各类功率器件检测装备，满足不同客户定制化需求。同时，公司持续投入研发，不断优化测试技术与方法，确保能够为客户提供前沿的检测服务。

丰富的项目经验 ：已成功服务超过 100+ 知名半导体功率器件设计、制造、封装、第三方检测及高校研究所等单位，在应对各类复杂检测项目时具备成熟的经验与高效的服务能力，能够快速响应客户需求并提供可靠的解决方案。

质量保证体系 ：通过国家 ISO9001 质量管理体系认证，严格遵循质量管理体系要求进行服务流程的管控。从需求沟通到报告出具的每一个环节，我们都制定了严格的质量标准和操作规范，确保为客户提供高质量、可信赖的测试服务。

定制化服务与灵活合作模式：致力于为客户提供个性化的检测方案设计与定制服务，满足不同客户的多样化需求。同时，提供灵活的合作模式，包括单次测试服务、长期合作等多种选择，适应客户不同的项目预算与业务规划。